v10.0
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序号 |
名称 |
规格 |
备注 |
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1 |
被测物种类 |
硅片、电池片 |
厂商根据客户在规格书的附录1（客户选择规格表）中说明的所需被测物种类进行参数调整 |
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2 |
被测物尺寸 |
长*宽=60*60~210*210 mm2 |
厂商根据客户在规格书的附录1（客户选择规格表）中说明的所需被测物尺寸范围进行参数调整 |
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3 |
计数时间 |
0.5S~2.5S |
自适应测试时间，由被测物数量决定 |
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4 |
单次可测量片数 |
1~210片 |
由可检测最大高度决定，硅片原料的可测最大数量为210片左右 |
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5 |
计片影像可检测最大高度 |
45mm |
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6 |
产品误判率 |
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按操作规程，连续对色差均匀的硅片进行1000次测量，每次测量数量不一 |
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7 |
平均无故障时间 |
8000小时 |
