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(Light Induced Degradation)的研究已经被大家所熟知。由于硅片中硼氧对复合、硼铁的分离，导致光伏组件运行的最初时间内，可能会发生超过3%的功率衰减，根据IEC 61215-2:2016的初始稳定测试程序，可以评估此类现象。光注入、改进退火工艺等抗LID方案也投入了产业化应用。
热辅助光致衰减
(Light and Elevated Temperature Induced Degradation)相比LID有着更缓慢的衰减速率，且主要发生在50℃以上的环境中。目前LeTID发生机理不够明确，可能与氢离子、金属杂质有关。
钝化发射极背表面接触太阳电池技术（PERC/PERT/PERL）市场份额于2019年达到50%，并会在未来十年内持续主导光伏市场。然而，这类太阳电池极易受到LID与LeTID的影响而导致实际输出功率衰减。
资料来源：ITRPV
测试标准
LeTID测试面临的困难
a.较低的施加电流或者测试温度可能会导致LeTID发生速率过低，短周期测试无法探测衰减结果。
b.较高的施加电流或者测试温度可能导致过快的功率恢复，会抵消LeTID的衰减，使测试衰减被低估。
TüV北德推出P12.4-AA-06 LeTID测试程序
a.初始稳定性测试后，测试组件初始功率Pinitial。
b.将组件连接到电流源，放入到环境箱中，加热组件到75°C后，然后施加 Isc和Impp差值的电流，维持162h (+8/-0h)。
c.待组件冷却至25°C后，测试功率。
d.重复b, c直到
-连续两轮环境箱后测试功率衰减小于1%
-或者最后一轮测量的功率比上一轮后的功率升高
e.每块进行以下公式的判定：
Pfinal ≥ 0.95 x Pinitialx (1−
