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供应NIR-01-3D红外探伤测试仪

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品牌: 合能阳光
探测: 黑点,硬质点
电阻率: 0.5
测试速度: 60s
单价: 600000.00元/套
起订: 1 套
供货总量: 10 套
发货期限: 自买家付款之日起 90 天内发货
所在地: 北京 通州
有效期至: 2021-09-18
最后更新: 2020-09-18 17:32
浏览次数: 1497
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公司基本资料信息
详细说明

NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料,其表面都采用了高强度漆面和电氧化工艺保护,系统外框采用高质量工业设计,所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及最小维护量的要求,做到绝对的稳定性和耐用性。
技术特点:
自动化程度更高,测试效果更好
采用铟镓砷传感器,而非一般厂家采用固定值的模拟摄像管,具有硬件图像校正和计算机参数控制的功能(包括亮度,伽马,积分时间),其灵敏度好,探伤结果与实际情况一致性佳。不需为不同尺寸的硅块设置不同的硬件参数(探伤位置,聚焦点,校准)
我们的软件系统为不同硅块的表面情况及尺寸提供设置菜单,没有必要在硬件上进行设置(当然我们也可以从硬件上进行设置)。
光源探照有效同质区域为300×330mm/550mm,我们采用了特殊扩散板材料,保证了在没有图像处理的情况也能确保成像质量。
测试范围更广
不仅可以探测标准尺寸的硅块,而且可以探测任何尺寸的硅块,没有光源照射区域限制。
也可直接对未抛光的硅块进行直接探测。
 
寿命更长
红外照相机3年免费保修或更换的承诺
我们采用的是独特的含有冷却单元的工业级镀金近红外卤管,保证了光源的持久耐用性,设备已经不采用普通卤管设计,我们提供了强致冷却单元,为设备的正常使用提供了足够的冷却单元,大大延长了仪器的使用寿命。
所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及最小维护量的要求
即使在高照明的条件下,我们的相机传感器也几乎没有退化的情况。
有多年在欧洲生产销售应用的经验,产品具有优良的工业应用性。
检测更快
检测速度快,自动四面检测< 1分钟,快速两面检测<20秒,一面<5秒
系统功能强大
可定制硅块缝合复原功能
可定制硅块尺寸测试模块
可根据客户需求进行功能模块定制,包括硅锭晶体生长情况进行工艺分析
可定制在线生产模式
可定制砷化镓磷化铟等其他半导体材料的探伤检测
可定制中文操作系统界面
 
技术指标:
主要探测指标裂缝,黑点,夹杂(通常为SiC),隐裂,微晶
硅块电阻率≥0.5Ohm*Cm(推荐)
检测时间平均每个硅块小于1分钟,两面小于20秒,一面小于5秒
硅块尺寸210mmx210mmx420mm
分辨率320px*256px(最早生产的产品)
640 px *512px(目前市场供应)
1280 px*1024px201012月份批量生产)
2560 px*2048px(行业最高,20111-3月份批量生产)
  
旋转台
采用单轴伺服电机
最大承载量:40kg
具有过流保护以防止损伤和电机烧毁
无步进损失,高分辨率解码机器
红外光源
高强度NIR卤灯,273mm加热波长
功率:230V,1000W
温度:25-60摄氏度
光强可通过软件控制
软件具有过热保护
观测仪
采用红外CCD控温
12位ADC
频率:60Hz和100Hz两个选择
像素间距: 30μm
可手动调节红外镜头
    测试样品
测试硅块尺寸:210mmx210mmx420mm
一套硬件装备可以检测所有尺寸的硅块
适用于不同的表面质量和厚度的硅块
适用于抛光面和裸面,抛光面探测效果更佳
电阻率:≥0.5Ohm*Cm(推荐)
    应用
   裂缝,黑点,夹杂(通常为SiC),隐裂,微晶
 
    软件(基于WIN XP
可从四个方向进行自动取样
可快速进行样块的快速测量
软件会对探测结果进行评价
可对检测参数进行灵活设置
可进行像素管理和图像处理
系统将对探测结果进行三维立体描绘
详情欢迎来电咨询:
北京合能阳光新能源技术有限公司
北京市通州区工业开发区光华路16
电话:010-60546837 -104   传真:01060546837-608
联系人:肖经理18610357221 QQ:454972757
E-mailxiaozongyong@henergysolar.com
董工:18911559012
E-maildongpeiming@henergysolar.com
公司网站:http://www.HenergySolar.com
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