《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》行业标准启动会顺利召开

 　　2012年6月8日，《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》行业标准启动会在无锡市产品质量监督检验中心六楼视频会议室召开。来自中国电子技术标准化研究院、北京有色金属研究总院、江苏中能硅业科技发展有限公司、中科院上海硅酸盐研究所、中科院福建物构所、国家硅材料深加工产品质检中心、江西赛维LDK、埃文思分析集团、国家太阳能光伏质检中心（CPVT）等单位的专家和领导出席了会议。

　　该标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口管理，由国家太阳能光伏产品质量监督检验中心（CPVT）负责起草。标准参考SEMI PV1-0309标准并充分结合了我国采用高分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的实际情况，于2012年5月完成了标准的草案。

　　本次会议由全国半导体设备和材料标准化技术委员会冯亚斌专员主持，国家光伏质检中心（CPVT）何莉、姚凤花、周滢等作为该标准的主要起草人对标准的制订情况作了相关的说明与介绍。与会专家对标准草案进行了充分讨论，对草案的个别条款提出了修改意见，并最终达成共识。在各位专家的共同努力下，形成了该标准的讨论稿。

　　据有关专家介绍，该项标准的制订，将为太阳能级硅中痕量元素的测试建立一个准确、便捷、高效的方法，填补行业空白。