一、核心测量性能：
CD-5000系列光谱共焦位移传感器其测量性能达到行业前沿，可满足超精密场景的严苛需求：
超高精度与分辨率：实现亚微米级级位移测量，线性度高达 0.49μm，通过光谱色差原理放大颜色光信号，摆脱光强变化干扰，稳定性远超传统激光三角法，确保长期测量数据可靠。
非接触式测量设计：无需与被测物体直接接触，从根源上避免表面划伤、形变等损伤问题，尤其适配晶圆、薄膜、光学镜片等精密器件，以及橡胶、塑料等易变形材料的测量需求。
高速实时监测能力：采样频率可达260kHz，能快速捕捉动态物体的位移变化，满足生产线实时控制、动态部件监测等高频场景需求。
二、强环境适应性：
针对工业现场电磁干扰、温度波动、光照变化等复杂环境，CD-5000系列光谱共焦位移传感器通过多重防护设计保障测量稳定性：
抗电磁干扰能力：探头采用纯光学结构，无电气元件，通过光纤与控制器连接，有效隔离现场电机、设备等产生的电磁干扰；同时光纤对雷电浪涌不敏感，控制器内置隔离元件与防护电路，进一步提升电气可靠性，适配电力、工业自动化等强电磁环境。
优异温度稳定性：镜头无热源设计，温漂极小；关键结构采用低热膨胀系数材料，并搭配双层壳体减震结构，减少环境温度变化与机械震动对测量的影响，抗震性能优异，可在高低温波动、多震动的车间环境中稳定工作。
三、广材质兼容性：
CD-5000系列光谱共焦位移传感器打破传统传感器对材质、表面形态的限制，可应对多种特殊材质与复杂几何结构的测量需求：
全材质普适性：无需调整测量参数，即可轻松测量镜面（如金属反光件）、透明 / 半透明体（如玻璃、树脂、液滴）、粗糙表面（如铸造件、喷砂件）、金属、陶瓷等各类材质，无需反复调整角度、易出现测量失效的问题。
复杂几何适应性：可测倾角达 60°，即使被测物体存在倾斜、翘曲（如弯曲的薄膜、异形构件），测量点仍保持稳定，无位置偏移；同轴光路设计，通过多方向光线照射，可测量传统激光传感器因遮挡无法触及的区域（如深腔、凹槽内侧）。
多层与厚度测量：单次扫描即可识别最多 5 层透明介质（如复合光学薄膜、多层树脂板材），厚度测量下限低至 5μm；支持透明物体单向厚度测量，无需双面校准，适配光学薄膜厚度检测、晶圆减薄监控、透明容器壁厚测量等场景。
四、工程化设计：
CD-5000系列光谱共焦位移传感器以 “降本增效、灵活部署” 为设计理念，产品在结构、功能上充分贴合工业应用需求：
模块化与小型化：镜头与控制器通过光纤分离，镜头体积小巧，可实现多探头并排安装（如同时测量多工位、多尺寸），轻松适配狭窄空间（如管道内径、精密模具型腔）的测量需求，减少设备占用空间。
多通道成本优势：单台控制器可同时连接多个传感器，无需为每个测量工位配置独立控制器，显著降低设备采购与运维成本，适合大规模生产线多点位同步测量（如显示屏面板多点厚度检测）。
产品核心价值
光子精密光谱共焦位移传感器以 “高精度、高稳定、广兼容、易部署” 为核心，可广泛应用于半导体制造（晶圆厚度 / 平整度测量）、光学器件（镜片曲率 / 薄膜厚度检测）、汽车工业（精密部件尺寸监控）、3C 电子（显示屏玻璃厚度 / 外壳平整度检测）等领域，帮助企业提升测量效率、保障产品精度，助力工业生产向更高精度、更智能化方向升级。
